J200-LA 장비
단순히 레이저의 파장의 선택이 최상의 레이저 어블레이션(Laser Ablation: LA) 결과를 얻을 수 있다고 생각하십니까? 그렇다면 다시 한번 생각해 보십시오. 어플라이드 스펙트라의 J200-LA 장비와 함께 J200의 자료분석 소프트웨어 패키지를 사용하신다면, 뛰어나고 사용하기 쉬운 프로그램을 통하여 귀하의 레이저 어블레이션 자료를 원하시는 응용분야에 대한 실질적인 해결책으로 만들어 드립니다.
합성물에 대한 정성, 정량적 분석, 2D, 3D mapping 분석, 또는 신속한 동위원소 검출을 위한 조사 등, 어떠한 작업을 이든지, J200-LA 장비는 귀하의 ICP-MS와 더불어 원하는 해답을 찾는 것을 도와줄 최고의 파트너가 될 것입니다.
수십 년에 걸쳐 레이저 어블레이션을 연구하였으며, 수백 권의 학술적 저작물을 발간한 ASI의 전문가들이 J200 LA 장비를 책임지고 있으며, 업계 최고의 고객지원을 제공하고 있습니다.
Products
J200-LA 장비:
- 고체시료의 전처리가 필요없는 신속한 방법
- 원소 / 동위원소 Mapping 및 심도분석(depth profiling)
- 정성, 정량 분석 및 Mapping분석을 위한 업계 최고의 데이터 분석 소프트웨어
- 추가적인 LIBS 옵션을 통해 J200 Tandem LA-LIBS로 확장 가능하며, 원소와 농도측정범위 (dynamic range)확장
- 세계적 수준의 LA-ICP-MS 전문가 지원을 통한 적용분야 및 분석분야에 적합한 분석법 개발
원소와 동위원소 분석, 빠른 처리능력, 시료 전처리가 필요없는 특징을 가진 일체형(All-in-one) 장비를 원하시나요? 어플라이드 스펙트라의 J200 Tandem LA-LIBS 장비가 바로 그 정답입니다. J200는 레이저 어블레이션(Laser Ablation: LA)으로 형성된 플라즈마에서 방출한 빛을 집광하여 분광분석을 하는 동시에, 레이저 어블레이션으로 만들어진 나노 입자를 높은 효율로 ICP-MS 장비로 전달합니다.
보다 자세한 내용은 제품 카탈로그와 제품 사양서를 참고하시고 메일로 문의를 주십시오.
Tandem Application Notes
Achieving Ultra-Sensitive Inductively Coupled Plasma – Mass Spectrometry (LA-ICP-MS) Analysis with the J200 LA Instrument: A Glass Sample Study
Applied Spectra Inc.’s J200 LA instrument, along with ICP-MS, was used to establish figures of merit for glass standard reference materials. The samples were analyzed to determine absolute mass measurements, as well to determine limits of detection…
Innovative Elemental Mapping of Geological Minerals with Applied Spectra’s J200 Tandem LA-LIBS
To understand the capabilities of the J200 Tandem LA – LIBS instrument in combination with ICP-MS, a rare earth element (REE)-rich mineral was analyzed and the elemental composition over a 16 mm2 area was mapped using contour plots.