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J200 Tandem LA-LIBS
J200 Tandem LA-LIBS

J200 Tandem LA-LIBS 장비

원소와 동위원소 분석, 빠른 처리능력, 시료 전처리가 필요없는 특징을 가진 일체형(All-in-one) 장비를 원하시나요? 어플라이드 스펙트라의 J200 Tandem LA-LIBS 장비가 바로 그 정답입니다. J200는 레이저 어블레이션(Laser Ablation: LA)으로 형성된 플라즈마에서 방출한 빛을 집광하여 분광분석을 하는 동시에, 레이저 어블레이션으로 만들어진 나노 입자를 높은 효율로 ICP-MS 장비로 전달합니다.

이 혁신적인 분석 기법은 무기원소 및 경원소의 분석, 빠른 원소 맵핑(mapping), 플라스마 방출선을 사용한 ICP-MS 결과값의 정규화(normalization), 주원소/미량원소 및 동위원소 동시 측정 등과 같은 새롭고 흥미로운 측정 방식의 가능성을 열어줍니다.

J200은 J200 LAJ200 LIBS와 같이 어플라이드 스펙트라의 신뢰받는 최첨단 제품 라인으로부터 입증된 레이저 어블레이션(Laser Ablation) 시스템 설계 및 레이저 유도 플라즈마 분광법(LIBS)의 경쟁력 있는 기술이 그대로 적용 되었습니다. 소모성 가스 및 레이저 광학장비의 교체 비용이 거의 들지 않기 때문에, J200 Tandem은 뛰어난 분석능력을 제공하면서도 장비의 유지비용은 매우 낮습니다.

The J200 Tandem 장비:

  • ICP-MS, LIBS 또는 이 두 장비 모두에 있어서 레이저 어블레이션을 통한 전처리없이 고체시료의 직접분석 가능
  • 주원소/미량원소 및 동위원소의 동시 측정
  • 실시간 분석 (측정 속도 수 초 이내)
  • C, H, O, N, F 등과 같이 ICP-MS를 적용하기 힘든 원소들을 다룰 수 있음
  • Bulk 분석, 개재물 분석(inclusion analysis), 심도분석(depth profiling), 원소 맵핑(elemental mapping) 등 다양한 분석방법 가능
  • ppb 단위부터 % 수준까지 농도 측정범위 확대(dynamic range)
  • Dual 카메라를 사용한 손쉬운 샘플링 영역 식별 및 선택
J200

J200 Tandem 장비의 특징과 장점으로는 다양한 선택사항, 모듈식 설계, 불균일한 시료 표면에 대한 자동높이 조정 기능, LA 측정을 위한 시료 챔버(chamber) 최적화 기능, 고정밀 가스유동제어, Dual 카메라를 통한 시각화 및 입체시스템(sample visualization system) 등이 있습니다. 또한 J200는 다중분광기(multiple detector) 선택사항을 통해 3개의 서로 다른 LIBS 분광기의 설치를 가능하게 함으로써, 단독 LIBS 모드에서 다양한 응용분석을 가능하게 해줍니다. 이에 대하여 더 자세한 정보를 원하신다면 이메일을 통하여 제품 카탈로그와 제품 사양서를 요청하시기 바랍니다.

Tandem LA-LIBS Application Notes

Analysis of Contaminated Plant Leaves Using J200 Tandem LA-LIBS Instrument

plantsThis application note highlights how the J200 Tandem LA – LIBS Instrument from Applied Spectra provides powerful elemental imaging for toxic elements such as Pb and As in plant leaves.

Innovative Elemental Mapping of Geological Minerals with Applied Spectra’s J200 Tandem LA-LIBS

Appnote TandemTo understand the capabilities of the J200 Tandem LA – LIBS instrument in combination with ICP-MS, a rare earth element (REE)-rich mineral was analyzed and the elemental composition over a 16 mm2 area was mapped using contour plots.

Elemental Mapping of Printed Ink Using the J200 Tandem LA – LIBS Instrument In Combination with ICP-MS

appnotes printThis note demonstrates the ability to perform fast elemental mapping using the J200 Tandem instrument.

ASI Technology

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